德國(guó)Roentgenanalytik X-射線熒光分析儀 ComPact eco （其他產(chǎn)品：ComPact 5，ComPact 5PIN，GOLDCHECK，Maxxi5，Maxxi5PIN，Maxxi5 ROhs）可測(cè)量各類金屬層、合金層厚度，附帶功能：合金成份分析，電鍍液成份分析，中文簡(jiǎn)體、繁體、英文操作系統(tǒng)。 特性：可測(cè)元素范圍： 鈦(Ti) – 鈾(U) 可測(cè)量厚度范圍：   原子序22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82，0.05-5μm 自動(dòng)測(cè)量功能：編程測(cè)量，自定測(cè)量修正測(cè)量功能：底材修正，已知樣品修正 定性分析功能：光譜表示，光譜比較 定量分析功能：合金成份分析 數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能：x管理圖，x-R管理圖，直方 德國(guó)Roentgenanalytik X-射線熒光分析儀適合五金電鍍，線路板，SMT等等行業(yè)！ 鍍層測(cè)厚的必選產(chǎn)品?。?！
Compact 5/PIN
X-Ray Fluorescence Analyser with Semiconductor Detector
Compact 5/5PIN ：輕巧的設(shè)計(jì)，半開(kāi)放式測(cè)試箱，可容納大件的PCB產(chǎn)品，功能強(qiáng)大，可配合激光自動(dòng)對(duì)焦，*方位自動(dòng)樣品臺(tái)等功能使用。適合中小工件及PCB等產(chǎn)品行業(yè)。Compact 5 PIN更配備了半導(dǎo)體電子冷卻檢測(cè)器，令分辨率數(shù)倍提高，可測(cè)量非常薄的鍍層，滿足于半導(dǎo)體電子工業(yè)的應(yīng)用。
**性能：
通過(guò)德國(guó)PTB**驗(yàn)證，符合德國(guó)*高**法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。
可測(cè)元素范圍：鈦(Ti) – 鈾(U)
可測(cè)量厚度范圍：
22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
準(zhǔn)直器：0.1mm  0.3mm  0.1mm×0.3mm 。
可選四個(gè)組合：0.1mm , 0.2mm , 0.3mm , 0.4mm
50um , 75um×200um , 150um×300um , 300um

自動(dòng)測(cè)量功能：
編程測(cè)量，自定測(cè)量
修正測(cè)量功能：
底材修正，已知樣品修正
綜合性能：
鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析
鍍層分析：
可分析三層厚度,*有的FP分析軟件,*正做到無(wú)厚度標(biāo)準(zhǔn)片亦能進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量(需要配合純材料),為您節(jié)省購(gòu)買標(biāo)準(zhǔn)片的成本。*全超越其他品牌的FP軟件。
鍍液分析：
可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,無(wú)需購(gòu)買標(biāo)準(zhǔn)藥液。
定性定量分析：
光譜表示，光譜比較，可定性分析20多種金屬元素；并可合金成份分析，可定量分析成分含量。
光譜對(duì)比功能：
可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來(lái)料的純度。
統(tǒng)計(jì)功能：
x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖，能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì)